循環(huán)高低溫沖擊試驗(yàn)箱廣泛用于電子電器零組件塑膠等行業(yè)、自動(dòng)化零部件、通訊組件、汽車配件、金屬、化學(xué)材料、塑料等行業(yè)，防工業(yè)、航天、兵工業(yè)、BGA、PCB基扳、電子芯片IC、半導(dǎo)體陶磁及高分子材料之物理性變化進(jìn)行試驗(yàn),用來測試材料結(jié)構(gòu)或復(fù)合材料，在瞬間下經(jīng)高溫及低溫的連續(xù)環(huán)境下所能忍受的程度，藉以在短時(shí)間內(nèi)試驗(yàn)其熱脹冷縮所引起的化學(xué)變化或物理變化。

循環(huán)高低溫沖擊試驗(yàn)箱技術(shù)參數(shù)：

型號(hào)及技術(shù)參數(shù)如下：(分別是寬×高×深) (mm)

AP-CJ-50內(nèi)箱尺寸：350×350×400外箱尺寸：1560×1750×1440

AP-CJ-80內(nèi)箱尺寸：500×400×400外箱尺寸：1700×1800×1440

AP-CJ-100內(nèi)箱尺寸：600×400×400外箱尺寸：1800×1800×1440

AP-CJ-150內(nèi)箱尺寸：600×500×500外箱尺寸：1800×1900×1540

AP-CJ-250內(nèi)箱尺寸：700×600×600外箱尺寸：1900×2000×1640

AP-CJ-480內(nèi)箱尺寸：800×800×750外箱尺寸：2020×2250×2150

溫度范圍：A:-40~ 150℃；B:-55~ 150℃；C:-65~ 150℃

測試室溫度范圍：-65℃～+150 ℃ (水冷式)

低溫沖擊范圍：-10℃～-65 ℃  （任意可調(diào)）

高溫沖擊范圍：60℃～150 ℃  （任意可調(diào)）

預(yù)熱溫度范圍：RT～+195℃

升溫時(shí)間：+50℃→+195℃ ≤40min注：升溫時(shí)間為高溫室單獨(dú)運(yùn)轉(zhuǎn)時(shí)的性能

預(yù)冷溫度范圍：RT～-75℃

降溫時(shí)間：+20℃ → -75℃≤約90min注：降溫時(shí)間為低溫室單獨(dú)運(yùn)轉(zhuǎn)時(shí)的性能

溫度波動(dòng)度：±0.5℃

溫度偏差：±2.0℃

溫度恢復(fù)時(shí)間：≤5min；轉(zhuǎn)換溫度只需要≤10s（吊籃移動(dòng)時(shí)間：3秒以內(nèi)）

沖擊暴露時(shí)間：≥30min